A Checkpoint Systems, empresas de soluções RFID para retalho e indústria, fortalece a sua posição na inovação em identificação sem contacto ao integrar o novo chip RAIN RFID UCODE X nas suas etiquetas inteligentes. Desenvolvido pela NXP Semiconductors, um dos principais fabricantes de semicondutores, o chip UCODE X oferece desempenho melhorado, memória configurável e flexibilidade de integração.

Esta integração permite melhorias significativas de desempenho (até -3 dBm em alguns modelos), que resultam num alcance de leitura alargado e maior fiabilidade dos dados para aplicações como gestão de inventário, rastreabilidade de produtos e otimização logística. A Checkpoint é um dos primeiros fabricantes a obter a certificação ARC do Laboratório RFID da Universidade de Auburn para vários dos seus inlays RFID equipados com o novo chip NXP UCODE X.

Concebido para cumprir com a crescente procura de aplicações RAIN RFID, o chip NXP UCODE X combina a sensibilidade de leitura/gravação líder da indústria com EPC e a memória de utilizador totalmente configuráveis, oferecendo flexibilidade avançada para situações de utilização personalizada. Compatível com as normas EPC Gen2, o UCODE X utiliza recursos não proprietários para integração perfeita em formatos de inlay RFID amplamente utilizados, garantindo leituras mais rápidas e precisas, especialmente em ambientes RFID desafiadores.

“Na Checkpoint Systems, estamos empenhados em incorporar as tecnologias mais avançadas nas nossas etiquetas inteligentes para fornecer soluções RFID de alto desempenho e fiáveis, adaptadas às necessidades dos nossos clientes,” afirmou Inge Fleuren, Diretor Global de Soluções de Produtos RFID da Checkpoint Systems. “A integração do chip UCODE X reflete perfeitamente esse compromisso. Estamos orgulhosos por contar com a experiência reconhecida do nosso parceiro NXP, cuja inovação contínua nos ajuda a antecipar as necessidades futuras de mercado.”

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